商品の詳細:
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製品名: | NチャネルMosの電界効果トランジスタ | モデル: | AP10H06S |
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パック: | SOP-8 | 印が付いていること: | AP10H06S |
VDSDrain源の電圧: | 60V | VGSGate-Souのrceの電圧: | ±20A |
ハイライト: | nチャネルmosfetのトランジスター,高圧トランジスター |
AP10H06S NチャネルMosの電界効果トランジスタの高周波
NチャネルMosの電界効果トランジスタのタイプ
力のMOSFETsの全面的な競技場の中では、異なった製造業者によって開発され、演説されたいくつかの特定の技術があります。彼らは力のMOSFETsが流れを運び、パワー レベルをもっと効率的に扱うことを可能にするいくつかの異なった技術を使用します。既に述べられて彼らが頻繁に縦の形態を組み込むように構成して下さい
従って異なったタイプの力MOSFETに異なった属性があり、ある特定の適用に特に適することができます。
NチャネルMosの電界効果トランジスタの特徴
VDS = 60V ID =10A
RDS () < 20m="">
NチャネルMosの電界効果トランジスタの塗布
電池の保護
負荷スイッチ
無停電電源装置
パッケージの印および発注情報
プロダクトID | パック | 印が付いていること | Qty (PCS) |
AP10H06S | SOP-8 | AP10H06S | 3000 |
絶対最高評価(TC=25℃UNLESS OTHERWISE NOTED)
変数 | 記号 | 限界 | 単位 |
下水管源の電圧 | VDS | 60 | V |
ゲート源の電圧 | VGS | ±20 | V |
現在連続的流出させて下さい | ID | 10 | A |
現在連続的流出させて下さい(TC=100 ℃) | ID (100 ℃) | 5.6 | A |
脈打った下水管の流れ | IDM | 32 | A |
最高の電力損失 | PD | 2.1 | W |
作動の接続点および保管温度の範囲 | T J、T STG | -55から150 | ℃ |
接続点に包囲された熱抵抗(ノート2) | RθJA | 60 | ℃/W |
電気特徴(TC=25℃UNLESS OTHERWISE NOTED)
変数 | 記号 | 条件 | 分 | Typ | 最高 | 単位 |
下水管源の絶縁破壊電圧 | BV DSS | V GS=0V ID=250μA | 60 | - | V | |
ゼロ ゲートの電圧下水管の流れ | IDSS | V DS=60V、V GS=0V | - | - | 1 | μA |
ゲート ボディ漏出流れ | IGSS | V GS=±20V、VDS=0V | - | - | ±100 | nA |
ゲートの境界の電圧 | V GS (Th) | V DS=V GSのID=250 μA | 1.0 | 1.6 | 2.2 | V |
下水管源のオン州の抵抗 |
RDS () |
V GS=10V、ID=8A | - | 15.6 | 20 | mΩ |
V GS=4.5V、ID=8A | - | 20 | 28 | mΩ | ||
前方相互コンダクタンス | gFS | V DS=5V、ID=8A | 18 | - | - | S |
入力キャパシタンス | Clss |
V DS=30V、V GS=0V、F=1.0MHz |
- | 1600 | - | PF |
出力キャパシタンス | Coss | - | 112 | - | PF | |
逆の移動キャパシタンス | Crss | - | 98 | - | PF | |
遅れ時間回転 | td () | - | 7 | - | nS | |
上昇時間回転 |
r t |
- | 5.5 | - | nS | |
回転遅れ時間 | td () | - | 29 | - | nS | |
回転落下時間 |
f t |
- | 4.5 | - | nS | |
総ゲート充満 | Qg |
V DS=30V、ID=8A、V GS=10V |
- | 38.5 | - | NC |
ゲート源充満 | Qgs | - | 4.7 | - | NC | |
ゲート下水管充満 | Qgd | - | 10.3 | - | NC | |
ダイオード前方電圧(ノート3) | V SD | V GS=0V、IS=8A | - | - | 1.2 | V |
ダイオードの前方流れ(ノート2) | あります | - | - | - | 8 | A |
逆の回復時間 |
rr t |
TJ = 25°C、=8Aなら di/dt = 100A/μs |
- | 28 | - | nS |
逆の回復充満 | Qrr | - | 40 | - | NC |
変数 | 記号 | 条件 | 分 | Typ | 最高 | 単位 |
下水管源の絶縁破壊電圧 | BV DSS | V GS=0V ID=250μA | 60 | - | V | |
ゼロ ゲートの電圧下水管の流れ | IDSS | V DS=60V、V GS=0V | - | - | 1 | μA |
ゲート ボディ漏出流れ | IGSS | V GS=±20V、VDS=0V | - | - | ±100 | nA |
ゲートの境界の電圧 | V GS (Th) | V DS=V GSのID=250 μA | 1.0 | 1.6 | 2.2 | V |
下水管源のオン州の抵抗 |
RDS () |
V GS=10V、ID=8A | - | 15.6 | 20 | mΩ |
V GS=4.5V、ID=8A | - | 20 | 28 | mΩ | ||
前方相互コンダクタンス | gFS | V DS=5V、ID=8A | 18 | - | - | S |
入力キャパシタンス | Clss |
V DS=30V、V GS=0V、F=1.0MHz |
- | 1600 | - | PF |
出力キャパシタンス | Coss | - | 112 | - | PF | |
逆の移動キャパシタンス | Crss | - | 98 | - | PF | |
遅れ時間回転 | td () | - | 7 | - | nS | |
上昇時間回転 |
r t |
- | 5.5 | - | nS | |
回転遅れ時間 | td () | - | 29 | - | nS | |
回転落下時間 |
f t |
- | 4.5 | - | nS | |
総ゲート充満 | Qg |
V DS=30V、ID=8A、V GS=10V |
- | 38.5 | - | NC |
ゲート源充満 | Qgs | - | 4.7 | - | NC | |
ゲート下水管充満 | Qgd | - | 10.3 | - | NC | |
ダイオード前方電圧(ノート3) | V SD | V GS=0V、IS=8A | - | - | 1.2 | V |
ダイオードの前方流れ(ノート2) | あります | - | - | - | 8 | A |
逆の回復時間 |
rr t |
TJ = 25°C、=8Aなら di/dt = 100A/μs |
- | 28 | - | nS |
逆の回復充満 | Qrr | - | 40 | - | NC |
ノート
1.反復的な評価:最高の接合部温度によって限られる脈拍幅。
2. FR4板に、tの≤ 10の秒取付けられる表面。
3. 脈拍テスト:脈拍幅の≤ 300のμs、使用率の≤ 2%。
4. 意図的に、ない生産に応じて保証される
注意
ここに記述されているか、または含まれている1つに、ありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトに生命維持システム、航空機制御システム、または失敗が適度に深刻で物理的なおよび/または物質的損害で起因すると期待することができる他の適用のような信頼性の非常にハイ レベルを、必要とする適用を扱うことができる指定がありません。そのような適用にここに記述されているか、または含まれているAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトを使用する前にあなたのAPMのマイクロエレクトロニクスの代表的な最も近いと相談して下さい。
2つのAPMのマイクロエレクトロニクスは、ここに記述されているか、または含まれているありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトの製品仕様書にリストされている評価される価値を(最高の評価のような、作動条件は、または他の変数及びます)瞬間的に超過する価値でプロダクトを使用することに起因する設備故障の責任を引き受けません。
3つのありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトの指定は独立国家でここに記述するか、またはinstipulateを記述されていたプロダクトの性能、特徴および機能含み、顧客のプロダクトか装置に取付けられるように記述されていたプロダクトの性能、特徴および機能の保証ではないです。独立した装置で評価することができない状態および徴候を確認するためには顧客は顧客のプロダクトか装置に取付けられる装置を常に評価し、テストするべきです。
4つのAPMのマイクロエレクトロニクスの半導体CO.、株式会社は良質の高い信頼性プロダクトを供給するように努力します。但し、ありとあらゆる半導体製品は確率と失敗します。これらの確率的な失敗が煙か火をもたらすことができるか、または他の特性への損害を与えることができる危険にさらすことができる人命でき事か事故をもたらすことができることは可能です。Whendesigning装置は、これらの種類の事故またはでき事が行われることができないように安全処置を採用します。そのような手段は含んでいますが、安全な設計、冗長設計および構造設計のための保護回線そして間違い防止回路に限られません。
ここに記述されているか、または含まれている一部またはすべてのAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトが(を含む技術的なデータ、サービス)適当なローカル エクスポート制御の法律および規則の何れかの下で管理されていれば5つは、上記の法律に従ってかかわっている権限から輸出許可を得ないで、そのようなプロダクト輸出されてはなりません。
6つはあらゆる形態で、この出版物の部分または決して、または別の方法で写真複写し、記録するか、またはAPMのマイクロエレクトロニクスの半導体CO.の前の許可書なしで情報蓄積または検索システムを含んで、電子か機械、株式会社再生されるか、または送信されないかもしれません。
コンタクトパーソン: David