商品の詳細:
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製品名: | mosfet 力トランジスター | 型番: | AP10N10DY |
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パック: | TO-252-3 | 印が付いていること: | AP10N10D XXX YYYY |
VDSDrain源の電圧: | 100V | VGSGate-Souのrceの電圧: | ±20A |
ハイライト: | nチャネルmosfetのトランジスター,高圧トランジスター |
転換の電源のための10A 100V Mosfet力トランジスターAP10N10DY
Mosfet力トランジスター記述:
AP10N10D/Yの使用高度の堀の技術
低いゲート充満を優秀なRDSに()与えるように設計して下さい。
それはいろいろ適用で使用することができます。
Mosfet力トランジスター特徴
VDS = 100V、ID = 10A
RDS () <160m>
RDSの() <170m>
超低いRdsonのための高密度細胞の設計
十分に特徴付けられたなだれの電圧および流れ
よい熱放散のための優秀なパッケージ
Mosfet力トランジスター塗布
力の切換えの適用
懸命に転換された高周波回路
無停電電源装置
パッケージの印および発注情報
プロダクトID | パック | 印が付いていること | Qty (PCS) |
AP10N10D | TO-252-3 | AP10N10D XXX YYYY | 2500 |
AP10N10Y | TO-251-3 | AP10N10Y XXX YYYY | 4000 |
絶対最高評価(通知がなければT A =25℃)
変数 | 記号 | 限界 | 単位 |
下水管源の電圧 | VDS | 100 | V |
ゲート源の電圧 | VGS | ±20 | V |
現在連続的流出させて下さい | ID | 10 | A |
現在脈打つ流出させて下さい(ノート1) | IDM | 20 | A |
最高の電力損失 | PD | 40 | W |
作動の接続点および保管温度の範囲 | TJ、TSTG | -55から175 | ℃ |
熱抵抗、接続点に場合(ノート2) | RθJC | 3.75 | ℃/W |
電気特徴(通知がなければTA =25℃)
変数 | 記号 | 条件 | 分 | Typ | 最高 | 単位 |
下水管源の絶縁破壊電圧 | BVDSS | VGS=0V ID=250μA | 100 | - | - | V |
ゼロ ゲートの電圧下水管の流れ | IDSS | VDS=100V、VGS=0V | - | - | 1 | μA |
ゲート ボディ漏出流れ | IGSS | VGS=±12V、VDS=0V | - | - | ±100 | nA |
ゲートの境界の電圧 | VGS (Th) | VDS=VGSのID=250 μA | 1.0 | 2.5 | V | |
下水管源のオン州の抵抗 |
RDS () |
VGS=10V、ID=3A | - | 140 | 160 |
mΩ |
VGS=4.5V、ID=3A | - | 160 | 170 | |||
前方相互コンダクタンス | gFS | VDS=5V、ID=3A | - | 5 | - | S |
入力キャパシタンス | Clss |
VDS=50V、VGS=0V、F=1.0MHz |
- | 650 | - | PF |
出力キャパシタンス | Coss | - | 25 | - | PF | |
逆の移動キャパシタンス | Crss | - | 20 | - | PF | |
遅れ時間回転 | td () | - | 6 | - | nS | |
上昇時間回転 |
r t |
- | 4 | - | nS | |
回転遅れ時間 | td () | - | 20 | - | nS | |
回転落下時間 |
f t |
- | 4 | - | nS | |
総ゲート充満 | Qg |
VDS=50V、ID=3A、 |
- | 20.6 | NC | |
ゲート源充満 | Qgs | - | 2.1 | - | NC | |
ゲート下水管充満 | Qgd | - | 3.3 | - | NC | |
ダイオード前方電圧(ノート3) | VSD | VGS=0V、IS=3A | - | - | 1.2 | V |
ダイオードの前方流れ(ノート2) |
S I |
- | - | 7 | A |
変数 | 記号 | 条件 | 分 | Typ | 最高 | 単位 |
下水管源の絶縁破壊電圧 | BVDSS | VGS=0V ID=250μA | 100 | - | - | V |
ゼロ ゲートの電圧下水管の流れ | IDSS | VDS=100V、VGS=0V | - | - | 1 | μA |
ゲート ボディ漏出流れ | IGSS | VGS=±12V、VDS=0V | - | - | ±100 | nA |
ゲートの境界の電圧 | VGS (Th) | VDS=VGSのID=250 μA | 1.0 | 2.5 | V | |
下水管源のオン州の抵抗 |
RDS () |
VGS=10V、ID=3A | - | 140 | 160 |
mΩ |
VGS=4.5V、ID=3A | - | 160 | 170 | |||
前方相互コンダクタンス | gFS | VDS=5V、ID=3A | - | 5 | - | S |
入力キャパシタンス | Clss |
VDS=50V、VGS=0V、F=1.0MHz |
- | 650 | - | PF |
出力キャパシタンス | Coss | - | 25 | - | PF | |
逆の移動キャパシタンス | Crss | - | 20 | - | PF | |
遅れ時間回転 | td () | VDD=50V、RL=19Ω VGS=10V、RG=3Ω |
- | 6 | - | nS |
上昇時間回転 |
r t |
- | 4 | - | nS | |
回転遅れ時間 | td () | - | 20 | - | nS | |
回転落下時間 |
f t |
- | 4 | - | nS | |
総ゲート充満 | Qg |
VDS=50V、ID=3A、 |
- | 20.6 | NC | |
ゲート源充満 | Qgs | - | 2.1 | - | NC | |
ゲート下水管充満 | Qgd | - | 3.3 | - | NC | |
ダイオード前方電圧(ノート3) | VSD | VGS=0V、IS=3A VGS=10V | - | - | 1.2 | V |
ダイオードの前方流れ(ノート2) |
S I |
- | - | 7 | A |
注:
1.反復的な評価:最高の接合部温度によって限られる脈拍幅。
2. FR4板に、tの≤ 10の秒取付けられる表面。
3. 脈拍テスト:脈拍幅の≤ 300μsの使用率の≤ 2%。
4. 意図的に、ない生産に応じて保証される
注意
ここに記述されているか、または含まれている1つに、ありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトに生命維持システム、航空機制御システム、または失敗が適度に深刻で物理的なおよび/または物質的損害で起因すると期待することができる他の適用のような信頼性の非常にハイ レベルを、必要とする適用を扱うことができる指定がありません。そのような適用にここに記述されているか、または含まれているAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトを使用する前にあなたのAPMのマイクロエレクトロニクスの代表的な最も近いと相談して下さい。
2つのAPMのマイクロエレクトロニクスは、ここに記述されているか、または含まれているありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトの製品仕様書にリストされている評価される価値を(最高の評価のような、作動条件は、または他の変数及びます)瞬間的に超過する価値でプロダクトを使用することに起因する設備故障の責任を引き受けません。
3つのありとあらゆるAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトの指定は独立国家でここに記述するか、またはinstipulateを記述されていたプロダクトの性能、特徴および機能含み、顧客のプロダクトか装置に取付けられるように記述されていたプロダクトの性能、特徴および機能の保証ではないです。独立した装置で評価することができない状態および徴候を確認するためには顧客は顧客のプロダクトか装置に取付けられる装置を常に評価し、テストするべきです。
4つのAPMのマイクロエレクトロニクスの半導体CO.、株式会社は良質の高い信頼性プロダクトを供給するように努力します。但し、ありとあらゆる半導体製品は確率と失敗します。これらの確率的な失敗が煙か火をもたらすことができるか、または他の特性への損害を与えることができる危険にさらすことができる人命でき事か事故をもたらすことができることは可能です。Whendesigning装置は、これらの種類の事故またはでき事が行われることができないように安全処置を採用します。そのような手段は含んでいますが、安全な設計、冗長設計および構造設計のための保護回線そして間違い防止回路に限られません。
ここに記述されているか、または含まれている一部またはすべてのAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトが(を含む技術的なデータ、サービス)適当なローカル エクスポート制御の法律および規則の何れかの下で管理されていれば5つは、上記の法律に従ってかかわっている権限から輸出許可を得ないで、そのようなプロダクト輸出されてはなりません。
6つはあらゆる形態で、この出版物の部分または決して、または別の方法で写真複写し、記録するか、またはAPMのマイクロエレクトロニクスの半導体CO.の前の許可書なしで情報蓄積または検索システムを含んで、電子か機械、株式会社再生されるか、または送信されないかもしれません。
7つの情報は(を含む回路図および回路変数)例えばここにありますただ;それは大量生産のために保証されません。APMのマイクロエレクトロニクスはここの情報が正確、信頼できるが、保証が第三者の知的財産権または他の権利の使用か侵害に関してなされないし、意味されないことを信じます。
ここに記述されているか、または含まれている8つ、ありとあらゆる情報はプロダクト/技術の改善、等による変更に応じて予告なしにあります。装置を設計した場合、あなたが使用するように意図するAPMのマイクロエレクトロニクス プロダクトのための「配達指定」を参照して下さい。
コンタクトパーソン: David